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<p>Bei einem Verfahren zum räumlich hochaufgelösten Abbilden einer einen Luminophor (1) aufweisenden Struktur (2) einer Probe (3) wird die Probe (3) in einem Messbereich (5) mit Lumineszenzanregungslicht (7) beaufschlagt, das den Luminophor (1) aus einem anregbaren elektronischen Grundzustand in einen angeregten lumineszierenden Zustand anregt. Die Probe (3) wird in dem Messbereich (5) zudem mit einer ein lokales Minimum (9) aufweisenden Intensitätsverteilung von Lumineszenzabregungslicht (8) beaufschlagt, das den Luminophor (1) aus dem angeregten lumineszierenden Zustand in den anregbaren elektronischen Grundzustand zurückbringt. Aus dem Messbereich (5) emittiertes Lumineszenzlicht (10) wird registriert und der Position des lokalen Minimums (9) in der Probe (3) zugeordnet. Vor dem Beaufschlagen mit dem Lumineszenzanregungslicht (7) wird die Probe (3) in dem Messbereich (5) mit einer Intensitätsverteilung von Anregungsverhinderungslicht (4) beaufschlagt, das den Luminophor (1) aus dem anregbaren elektronischen Grundzustand in einen Schutzzustand überführt, in welchem der Luminophor (1) vor elektronischen Anregungen durch das Lumineszenzanregungslicht (7) und das Lumineszenzabregungslicht (8) geschützt ist. Die Intensitätsverteilung des Anregungsverhinderungslichts (4) weist ein lokales Minimum (6) auf, das mit dem lokalen Minimum (9) der Intensitätsverteilung des Lumineszenzabregungslichts (8) überlappt.</p> |
