发明名称 |
非破坏检查装置及非破坏检查装置用的亮度数据的补正方法 |
摘要 |
本发明提供一种非破坏检查装置。非破坏检查装置(1)具备X射线照射器(20)、低能检测器(32)、高能检测器(42)、低能透过率计算部(72)、高能透过率计算部(74)、检测部(76)及补正部(78)。计算部(72)计算表示透过X射线的低能范围的透过率的值。计算部(74)计算表示透过X射线的高能范围的透过率的值。检测部(76)基于由两计算部(72、72)算出的透过率之比,检测X射线照射器(20)的错位内容。补正部(78)在由检测部(76)检测出X射线照射器(20)的错位内容的情况下,根据错位内容,对由检测器(32、42)检测出的X射线的亮度数据进行补正。 |
申请公布号 |
CN103930772A |
申请公布日期 |
2014.07.16 |
申请号 |
CN201280054942.7 |
申请日期 |
2012.08.22 |
申请人 |
浜松光子学株式会社 |
发明人 |
须山敏康 |
分类号 |
G01N23/04(2006.01)I;G01T7/00(2006.01)I;G21K5/00(2006.01)I;G21K5/10(2006.01)I |
主分类号 |
G01N23/04(2006.01)I |
代理机构 |
北京尚诚知识产权代理有限公司 11322 |
代理人 |
杨琦 |
主权项 |
一种非破坏检查装置,其具备:向规定方向输送被检查物的输送部;以与所述输送部的输送方向交叉的方式朝向所述输送部照射放射线的放射线源;在第一能量范围内检测自所述放射线源照射的放射线的第一放射线检测器;在比所述第一能量范围高的第二能量范围内检测自所述放射线源照射的放射线的第二放射线检测器;第一计算部,其根据由所述第一放射线检测器检测出的放射线的亮度数据,计算表示从所述放射线源照射且透过所述被检查物的放射线的所述第一能量范围的第一透过率的值;第二计算部,其根据由所述第二放射线检测器检测出的放射线的亮度数据,计算表示自所述放射线源照射且透过所述被检查物的放射线的所述第二能量范围的第二透过率的值;检测部,其基于表示由所述第一计算部算出的所述第一透过率的值和表示由所述第二计算部算出的所述第二透过率的值之比或差,检测所述放射线源的错位内容;补正部,其在由所述检测部检测出所述放射线源的错位内容的情况下,根据该错位内容,对由所述第一及第二放射线检测器检测出的放射线的亮度数据的至少一方进行补正。 |
地址 |
日本静冈县 |