一种可移动测试探针的测试治具

摘要

本实用新型公开一种可移动测试探针的测试治具，包括一针板结构，所述针板结构包括：一针板外框；若干测试针滑板，其设于所述针板外框上，并可相对于所述针板外框滑动；若干测试针滑块，其设于所述测试针滑板上，并可相对于所述测试针滑板滑动，且所述测试针滑块相对于所述测试针滑板滑动的方向与所述测试针滑板相对于针板外框滑动方向垂直；若干测试针，其固定于所述测试针滑块上。本实用新型通过实现探针可移动技术避免了传统电路板性能测试治具因测试针的固定性和测试产品的差异性而导致的测试治具与测试产品一对一的单一性问题，使每套治具的可使用性扩大，同时也降低了生产成本。

主权项

一种可移动测试探针的测试治具，包括一针板结构，其特征在于，所述针板结构包括：一针板外框；若干测试针滑板，其设于所述针板外框上，并可相对于所述针板外框滑动；若干测试针滑块，其设于所述测试针滑板上，并可相对于所述测试针滑板滑动，且所述测试针滑块相对于所述测试针滑板滑动的方向与所述测试针滑板相对于针板外框滑动方向垂直；若干测试针，其固定于所述测试针滑块上。