OLED模组的老化寿命测试系统

摘要

本实用新型提供一种OLED模组的老化寿命测试系统，包括：工控机、可编程控制器、程控电源、光谱仪、光学探头、温变箱和OLED模组承载装置；OLED模组承载装置设于温变箱内，用于承载待测的OLED模组；工控机分别与程控电源、可编程控制器、光谱仪和温变箱连接；光学探头设于温变箱上方并连接光谱仪；程控电源用于对待测的OLED模组进行供电；工控机用于实时控制程控电源并读取程控电源的输出数据，通过可编程控制器控制所述程控电源输出的通断，控制光谱仪的操作并实时读取光谱仪的检测数据。本实用新型的技术方案，可以在大范围温变环境下对OLED模组的光学参数的测试，提高了老化寿命的测试结果的准确性，而且实现测试过程的自动化，提高了测试效率。

主权项

一种OLED模组的老化寿命测试系统，其特征在于，包括：工控机、可编程控制器、程控电源、光谱仪、光学探头、温变箱和OLED模组承载装置；所述OLED模组承载装置设于温变箱内，用于承载待测的OLED模组；所述工控机分别与程控电源、可编程控制器、光谱仪和温变箱连接；所述光学探头设于温变箱上方并连接光谱仪；所述程控电源用于对待测的OLED模组进行供电；所述工控机用于实时控制程控电源并读取程控电源的输出数据，通过可编程控制器控制所述程控电源输出的通断，控制光谱仪的操作并实时读取光谱仪的检测数据。