发明名称 半导体装置及其形成方法以及鳍式场效二极体;SEMICONDUCTOR DEVICE, METHOD OF FORMING THE SAME AND FINFET DIODE
摘要 本发明揭露高效率的FinFET二极体及其形成方法,而解决减少的主动面积造成传统FinFET二极体品级下降的问题。FinFET二极体具有:掺杂基底;分成彼此隔开的二群实质上平行、等间隔、细长的半导体鳍状构造;介电层,形成于二群且于鳍状构造之间用以绝缘;复数个实质上等间隔且平行、细长的闸极构造,垂直横越二群鳍状构造;及二群半导体条,分别纵长地形成在二群鳍状构造上。二群半导体条被掺杂成具有n型、p型的相反的导电形式。FinFET二极体更包含形成于半导体条上的金属接点。在一实施例中,半导体条可藉由磊晶成长整合于与鳍状构造一起形成并被就地掺杂。
申请公布号 TW201428975 申请公布日期 2014.07.16
申请号 TW102145802 申请日期 2013.12.12
申请人 台湾积体电路制造股份有限公司 发明人 范学实;张胜杰;胡嘉欣;梁铭彰;吴显扬;谢文兴;黄靖方
分类号 H01L29/78(2006.01);H01L21/28(2006.01) 主分类号 H01L29/78(2006.01)
代理机构 代理人 洪澄文;颜锦顺
主权项
地址 TAIWAN SEMICONDUCTOR MANUFACTURING CO., LTD. 新竹市新竹科学工业园区力行六路8号