| 发明名称 | 芯片测试座 | ||
| 摘要 | 本发明公开了一种芯片测试座，包括基座，所述基座下表面设置至少一对用于连接晶体管图示仪的引脚，所述一对引脚与晶体管图示仪上的一组测试插孔适配；所述基座上表面设置有第一拨码开关、第二拨码开关和芯片夹具，所述一对引脚中的一个引脚与所述第一拨码开关电性连接，所述第一拨码开关与所述芯片夹具电性连接，所述芯片夹具与所述第二拨码开关电性连接，所述第二拨码开关与所述一对引脚中的另一个引脚电性连接。本发明的芯片测试座使得芯片测试操作简单，测试效率高。 | ||
| 申请公布号 | CN103926429A | 申请公布日期 | 2014.07.16 |
| 申请号 | CN201410154263.8 | 申请日期 | 2014.04.16 |
| 申请人 | 成都先进功率半导体股份有限公司 | 发明人 | 王锐;夏群 |
| 分类号 | G01R1/04(2006.01)I | 主分类号 | G01R1/04(2006.01)I |
| 代理机构 | 四川力久律师事务所 51221 | 代理人 | 王芸;熊晓果 |
| 主权项 | 一种芯片测试座，包括基座，其特征在于，所述基座下表面设置至少一对用于连接晶体管图示仪的引脚，所述一对引脚与晶体管图示仪上的一组测试插孔适配；所述基座上表面设置有第一拨码开关、第二拨码开关和芯片夹具，所述一对引脚中的一个引脚与所述第一拨码开关电性连接，所述第一拨码开关与所述芯片夹具电性连接，所述芯片夹具与所述第二拨码开关电性连接，所述第二拨码开关与所述一对引脚中的另一个引脚电性连接。 | ||
| 地址 | 611731 四川省成都市高新区西区高新综合保税区B区科新路8-88号 | ||