| 发明名称 | 选择性地使用或绕过远程管脚电子设备块来测试至少一个待测设备的方法和装置 | ||
| 摘要 | 在一个实施例中，用于测试至少一个待测设备(DUT)的装置包括：测试器输入/输出(I/O)节点、DUT I/O节点、远程管脚电子设备块、旁路电路和控制系统。远程管脚电子设备块提供测试功能，并且被耦合在测试器I/O节点和DUT I/O节点之间。旁路电路被耦合在测试器I/O节点和DUT I/O节点之间，并且提供测试器I/O节点和DUT I/O节点之间的信号旁路路径。信号旁路路径绕过由远程管脚电子设备块提供的测试功能。控制系统被配置来使能和禁用旁路电路。还公开了用于利用该装置和其他有关装置来测试一个或多个DUT的方法。 | ||
| 申请公布号 | CN102016614B | 申请公布日期 | 2014.07.16 |
| 申请号 | CN200980114118.4 | 申请日期 | 2009.02.23 |
| 申请人 | 爱德万测试(新加坡)私人有限公司 | 发明人 | 爱德马度·德拉帕恩特;大卫·D·埃斯克德森 |
| 分类号 | G01R31/28(2006.01)I | 主分类号 | G01R31/28(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 11258 | 代理人 | 宋鹤;南霆 |
| 主权项 | 一种用于测试至少一个待测设备的装置，该装置包括：测试器输入/输出节点；多个待测设备输入/输出节点；多个远程管脚电子设备块，每个远程管脚电子设备块提供第一测试功能，并且每个远程管脚电子设备块被耦合在所述测试器输入/输出节点和所述多个待测设备输入/输出节点中的相应一个之间；被耦合在所述测试器输入/输出节点和所述多个待测设备输入/输出节点的每个之间的旁路电路，该旁路电路提供所述测试器输入/输出节点和各个所述待测设备输入/输出节点之间的信号旁路路径，并且所述信号旁路路径中的每个绕过由所述远程管脚电子设备块中的相应一个提供的第一测试功能；以及控制系统，被配置为使能和禁用所述旁路电路并且每次使能所述信号旁路路径中的一个。 | ||
| 地址 | 新加坡新加坡市 | ||