发明名称 一种抗单粒子效应的带隙基准
摘要 一种抗单粒子效应的带隙基准,有栅极相连的第一PMOS管M1、第二PMOS管M2和第三PMOS管M3,基极与集电极都接地的第一三极管Q1、第二三极管Q2和第三三极管Q3,以及运算放大器F,M1管、M2管和M3管的源极分别连接电源VDD,M1管的漏极和第一三极管Q1的发射极均连接运算放大器F的反相输入端,M2管的漏极连接运算放大器F的同相输入端,第二三极管Q2的发射极通过电阻R1连接运算放大器F的同相输入端,M3管的漏极构成带隙基准输出端V<sub>out</sub>,第三三极管Q3的发射极通过电阻R2连接M3管的漏极,运算放大器F的同相输入端Y连接辅助电路。本实用新型减小了单粒子效应的影响,可应用于太空等辐射条件下。
申请公布号 CN203720695U 申请公布日期 2014.07.16
申请号 CN201320896211.9 申请日期 2013.12.30
申请人 天津大学 发明人 徐江涛;贾文龙;姚素英;史再峰;高静
分类号 G05F1/56(2006.01)I 主分类号 G05F1/56(2006.01)I
代理机构 天津市北洋有限责任专利代理事务所 12201 代理人 杜文茹
主权项 一种抗单粒子效应的带隙基准,包括:栅极相互连接的第一PMOS管M1、第二PMOS管M2和第三PMOS管M3,基极与集电极都接地的第一三极管Q1、第二三极管Q2和第三三极管Q3,以及运算放大器F,其中,所述第一PMOS管M1、第二PMOS管M2和第三PMOS管M3的源极分别连接电源VDD,所述第一PMOS管M1的漏极和第一三极管Q1的发射极均连接运算放大器F的反相输入端(X),所述第二PMOS管M2的漏极连接运算放大器F的同相输入端(Y),所述第二三极管Q2的发射极通过电阻R1连接运算放大器F的同相输入端,所述第三PMOS管M3的漏极构成带隙基准输出端V<sub>out</sub>,所述第三三极管Q3的发射极通过电阻R2连接第三PMOS管M3的漏极,其特征在于,所述的运算放大器F的同相输入端Y连接用来实现受到单粒子效应时的分流电流的辅助电路(B)。
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