发明名称 用于光电测量设备性能指标检测的倒摆式模拟目标源
摘要 本发明涉及一种用于光电测量设备性能指标检测的倒摆式模拟目标源,包括:竖直方向上依次设置的多个用来模拟具有不同俯仰角的无穷远光学目标的相互平行的平行光管;在多个平行光管像面处安放有不同形状的分划板,其用来产生多个用于光电测量设备成像的目标。本发明提出的倒摆式模拟目标源可以为光电测量设备室内性能检测提供静态检测目标源和动态目标源一体化的检测设备;并且可以产生具有多种具有不同俯仰角的运动目标源;目标轨迹更符合实际状态,对光电测量设备室内静、动态性能检测具有重要意义。
申请公布号 CN103925938A 申请公布日期 2014.07.16
申请号 CN201410120281.4 申请日期 2014.03.27
申请人 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 发明人 张宁;沈湘衡;宋莹
分类号 G01D18/00(2006.01)I 主分类号 G01D18/00(2006.01)I
代理机构 长春菁华专利商标代理事务所 22210 代理人 南小平
主权项 一种用于光电测量设备性能指标检测的倒摆式模拟目标源,其特征在于,包括:竖直方向上依次设置的多个用来模拟具有不同俯仰角的无穷远光学目标的相互平行的平行光管;在多个平行光管像面处安放有不同形状的分划板,其用来产生多个用于光电测量设备成像的目标;静态模拟目标源模式时,该倒摆式模拟目标源可根据多个平行光管提供具有不同俯仰角的目标作为真值,完成光电测量设备的静态测角精度检测;动态模拟目标源模式时,该倒摆式模拟目标源可根据被检光电测量设备角速度和角加速度指标,通过主控计算机中的主控软件设置倒摆摆臂的摆动速度和角度范围。
地址 130033 吉林省长春市东南湖大路3888号