发明名称 |
光学取像系统及光学检测系统 |
摘要 |
一种光学取像系统,系用于对一待测物取像,包含:一微分干涉装置及一线扫描取像装置。该微分干涉装置具有一入光端及一出光端,该待测物之光线由该入光端进入该微分干涉装置,经微分干涉后由该出光端发出。该线扫描取像装置连接于该微分干涉装置的该出光端,撷取该出光端发出的光线而产生一线扫描影像。透过该线扫描取像装置搭配该微分干涉装置,使该等感光元件排列的方向是平行该微分干涉装置能清楚成像的区域的延伸方向,而使取像全程被线型感光单元取像的视野均保持清楚的成像。 |
申请公布号 |
TWM482072 |
申请公布日期 |
2014.07.11 |
申请号 |
TW102223704 |
申请日期 |
2013.12.16 |
申请人 |
由田新技股份有限公司 |
发明人 |
高志豪;江庆原;邓亦书 |
分类号 |
G02B21/00;G01N21/01;G01N21/29 |
主分类号 |
G02B21/00 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
一种光学取像系统,系用于对一待测物取像,包含:一微分干涉装置,具有一入光端及一出光端,该待测物之光线由该入光端进入该微分干涉装置,经微分干涉后由该出光端发出;及一线扫描取像装置,连接于该微分干涉装置的该出光端,撷取该出光端发出的光线而产生一线扫描影像。 |
地址 |
新北市中和区连城路268号10楼之1 TW 10F.-1, NO. 268, LIANCHENG RD., JHONGHE DIST., NEW TAIPEI CITY 23553, TAIWAN (R. O. C.) |