发明名称 单面蚀刻方法及单面蚀刻装置
摘要 本发明提供一种单面蚀刻方法及装置。其中单面蚀刻方法包括提供晶圆,此晶圆具有上表面及下表面;形成液态保护层于晶圆之上表面;使晶圆藉由输送装置通过液槽,液槽容置有蚀刻液;以及使晶圆与蚀刻液接触进行蚀刻。藉由所形成于晶圆上表面的液态保护层,保护晶圆上表面在蚀刻制程中,不会受蚀刻液影响或制程中蚀刻液的喷溅,进一步避免晶圆上表面产生蚀刻痕迹,同时简化生产制程,提高产能效率。
申请公布号 TWI445087 申请公布日期 2014.07.11
申请号 TW100113979 申请日期 2011.04.22
申请人 均豪精密工业股份有限公司 新竹市科学园区创新一路5之1号 发明人 张书省;蔡嘉雄;刘仕伟;茹振宗
分类号 H01L21/321;H01L21/3213 主分类号 H01L21/321
代理机构 代理人 周威君 新竹县竹东镇中兴路4段195号53馆219室
主权项 一种单面蚀刻方法,包括:提供一晶圆(21),该晶圆(21)具有一上表面(211)及一下表面(212);形成一液态保护层(22)于该晶圆(21)之该上表面(211);使该晶圆(21)藉由一输送装置(23)通过一液槽(24),该液槽(24)容置有蚀刻液(25);以及使该晶圆(21)与该蚀刻液(25)接触进行蚀刻;其中,该液态保护层(22)对该晶圆(21)之表面附着力大于该蚀刻液(25)对该晶圆(21)之表面附着力。
地址 新竹市科学园区创新一路5之1号