发明名称 Cu-Ga合金溅镀靶及其制造方法
摘要 本发明提供一种Cu-Ga合金溅镀靶,可形成膜成分组成之均匀性(膜均匀性)优异的Cu-Ga溅镀膜,且可减低溅镀中之电弧作用发生,同时强度高,而可抑制溅镀中之破裂。本发明系关于一种Cu-Ga合金溅镀靶,其系包含含有镓(Ga)的铜(Cu)基合金之溅镀靶,而其平均结晶粒径系10μm以下,且气孔率系0.1%以下。
申请公布号 TWI444489 申请公布日期 2014.07.11
申请号 TW099111625 申请日期 2010.04.14
申请人 钢臂功科研股份有限公司 日本 发明人 松村仁实;南部旭;得平雅也;冈本晋也
分类号 C23C14/34;C22C9/00;C22C1/02 主分类号 C23C14/34
代理机构 代理人 林志刚 台北市中山区南京东路2段125号7楼
主权项 一种Cu-Ga合金溅镀靶,其系包含Ga含量为20原子%以上29原子%以下之Cu-Ga合金之溅镀靶,其平均结晶粒径系0.5μm~10μm,且气孔率系0.1%以下,氧含量为500ppm以下。
地址 日本