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发明名称
嵌入式设备测试系统及方法
摘要
一种嵌入式设备测试系统,运行于主机中,所述主机与嵌入式设备通讯连接,该系统包括:启动侦测模组,用于侦测嵌入式设备是否启动;登录模组,用于在侦测到嵌入式设备启动后登录嵌入式设备;状态侦测模组,用于侦测嵌入式设备当前的设备状态;确定模组,用于判断嵌入式设备当前的设备状态是否是结束状态,以及在嵌入式设备当前的设备状态不是结束状态时确定与嵌入式设备当前的设备状态相对应的测试命令;及测试模组,用于将确定的测试命令发送至嵌入式设备,对嵌入式设备执行对应的测试。本发明还提供一种嵌入式设备测试方法。
申请公布号
TWI444827
申请公布日期
2014.07.11
申请号
TW099123703
申请日期
2010.07.19
申请人
鸿海精密工业股份有限公司 新北市土城区自由街2号
发明人
林玉龙;董华;谭杰君;谢奕勇
分类号
G06F13/10
主分类号
G06F13/10
代理机构
代理人
主权项
一种嵌入式设备测试系统,运行于主机中,所述主机与嵌入式设备通讯连接,该系统包括:启动侦测模组,用于侦测嵌入式设备是否启动;登录模组,用于在侦测到嵌入式设备启动后登录嵌入式设备;状态侦测模组,用于侦测嵌入式设备当前的设备状态;确定模组,用于判断嵌入式设备当前的设备状态是否是结束状态,以及在嵌入式设备当前的设备状态不是结束状态时确定与嵌入式设备当前的设备状态相对应的测试命令;及测试模组,用于将确定的测试命令发送至嵌入式设备,对嵌入式设备执行对应的测试。
地址
新北市土城区自由街2号
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