发明名称 |
Verfahren zum Herstellen einer Halbleitervorrichtung |
摘要 |
Verfahren zum Herstellen einer Halbleitervorrichtung mit den Schritten: Bilden eines p-Bereichs (12) an einer Oberfläche eines Halbleitersubstrats (11), Bilden zumindest einer Al-Elektrode (14) auf dem p-Bereich (12), Bilden eines Zwischenlagenfilms (16) in Kontakt mit der zumindest einen Al-Elektrode (14), wobei der Zwischenlagenfilm (16) aus einem Material gebildet ist, das weniger stark mit Si reagiert als Al, und Bilden eines semi-isolierenden Films (18) auf dem Zwischenlagenfilm (16), wobei der semi-isolierende Film (18) Si enthält. |
申请公布号 |
DE102009023417(B4) |
申请公布日期 |
2014.07.10 |
申请号 |
DE20091023417 |
申请日期 |
2009.05.29 |
申请人 |
MITSUBISHI ELECTRIC CORP. |
发明人 |
TAKANO, KAZUTOYO;MURAKAMI, JUNICHI;MINATO, TADAHARU |
分类号 |
H01L21/28;H01L21/768;H01L23/528;H01L29/06;H01L29/40;H01L29/739 |
主分类号 |
H01L21/28 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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