发明名称 Verfahren zum Herstellen einer Halbleitervorrichtung
摘要 Verfahren zum Herstellen einer Halbleitervorrichtung mit den Schritten: Bilden eines p-Bereichs (12) an einer Oberfläche eines Halbleitersubstrats (11), Bilden zumindest einer Al-Elektrode (14) auf dem p-Bereich (12), Bilden eines Zwischenlagenfilms (16) in Kontakt mit der zumindest einen Al-Elektrode (14), wobei der Zwischenlagenfilm (16) aus einem Material gebildet ist, das weniger stark mit Si reagiert als Al, und Bilden eines semi-isolierenden Films (18) auf dem Zwischenlagenfilm (16), wobei der semi-isolierende Film (18) Si enthält.
申请公布号 DE102009023417(B4) 申请公布日期 2014.07.10
申请号 DE20091023417 申请日期 2009.05.29
申请人 MITSUBISHI ELECTRIC CORP. 发明人 TAKANO, KAZUTOYO;MURAKAMI, JUNICHI;MINATO, TADAHARU
分类号 H01L21/28;H01L21/768;H01L23/528;H01L29/06;H01L29/40;H01L29/739 主分类号 H01L21/28
代理机构 代理人
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