发明名称 一种基于异质结构的吸收、倍增层分离的紫外雪崩光电探测器
摘要 本发明涉及一种紫外探测器,尤其涉及一种基于异质结构的吸收、倍增层分离的紫外雪崩光电探测器。一种基于异质结构的吸收、倍增层分离的紫外雪崩光电探测器,其中,器件包括衬底,依次生长在衬底上的缓冲层,n型掺杂GaN层,非掺杂或低掺杂浓度的本征GaN吸收层,低掺杂浓度的n型GaN层,低掺杂浓度的n型AlGaN组分缓变层,非掺杂的本征Al<sub>x</sub>Ga<sub>1-x</sub>N倍增层,p型掺杂AlGaN组分缓变层,p型掺杂GaN层。本发明提供了一种可实现低噪声、高增益的高性能紫外雪崩光电探测器。由于器件的特殊结构,正入射的信号即可实现空穴触发的雪崩增益,巧妙地避免了以往背入射的硬性要求,简化了工艺流程,降低了测试难度。
申请公布号 CN102593234B 申请公布日期 2014.07.09
申请号 CN201210040786.0 申请日期 2012.02.22
申请人 中山大学 发明人 江灏;黄泽强
分类号 H01L31/107(2006.01)I;H01L31/0352(2006.01)I;H01L31/076(2012.01)I 主分类号 H01L31/107(2006.01)I
代理机构 广州粤高专利商标代理有限公司 44102 代理人 陈卫
主权项 一种基于异质结构的吸收、倍增层分离的紫外雪崩光电探测器,其特征在于:器件包括衬底(1),依次生长在衬底(1)上的缓冲层(2),n型掺杂GaN层(3),非掺杂或低掺杂浓度的本征GaN吸收层(4),低掺杂浓度的n型GaN层(5),低掺杂浓度的n型AlGaN组分缓变层(6),非掺杂的本征Al<sub>x</sub>Ga<sub>1‑x</sub>N倍增层(7),p型掺杂AlGaN组分缓变层(8),p型掺杂GaN层(9)。
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