发明名称 一种槽栅槽源SOI LDMOS器件
摘要 一种槽栅槽源SOILDMOS器件,包括衬底层、埋氧层、有源半导体层、n<sup>+</sup>漏区、槽栅、栅氧层、介质埋层、槽源、源电极、栅电极、p阱和漏电极并组成SOILDMOS器件,p阱内设有n<sup>+</sup>源区和p<sup>+</sup>p阱欧姆接触区,槽栅和槽源之间通过介质埋层隔离;n<sup>+</sup>源区的上部与栅氧层、介质埋层和槽源相接,p<sup>+</sup>p阱欧姆接触区的上部与槽源相接;p阱的底部与埋氧层相接。本发明的优点是:该槽栅槽源SOILDMOS器件中,纵向槽栅聚集了高电场,提高了器件横向耐压;有源半导体层的纵向电场在槽栅的作用下分布均匀,提高了器件纵向耐压;由于采用了槽栅、槽源结构,P阱与纵向槽栅形成了纵向导电沟道,显著的降低了器件导通电阻。
申请公布号 CN103915505A 申请公布日期 2014.07.09
申请号 CN201410158931.4 申请日期 2014.04.21
申请人 天津理工大学 发明人 石艳梅;刘继芝;代红丽
分类号 H01L29/78(2006.01)I;H01L29/423(2006.01)I;H01L29/08(2006.01)I 主分类号 H01L29/78(2006.01)I
代理机构 天津佳盟知识产权代理有限公司 12002 代理人 侯力
主权项 一种槽栅槽源SOI LDMOS器件,包括衬底层、埋氧层、有源半导体层、n<sup>+</sup>漏区、槽栅、栅氧层、介质埋层、槽源、源电极、栅电极、p阱和漏电极并组成SOI LDMOS器件,p阱内设有n<sup>+</sup>源区和p<sup>+</sup>p阱欧姆接触区,其特征在于:槽栅和槽源之间通过介质埋层隔离; n<sup>+</sup>源区的上部与栅氧层、介质埋层和槽源相接,p<sup>+</sup>p阱欧姆接触区的上部与槽源相接;p阱的底部与埋氧层相接。
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