| 发明名称 | 一种基于故障注入的测试系统单粒子功能失效率的方法 | ||
| 摘要 | 本发明公开了一种基于故障注入的测试系统单粒子功能失效率的方法，其步骤为：（1）将被测系统进行功能模块划分；（2）在两个同时运行的相同的被测系统中，对其中一个被测系统的一个功能模块注入单粒子故障，同时输出比较器采集两个被测系统的输出，进行比对；如果出现差异，则证明单粒子故障引起了被测系统的功能失效；如果没有出现差异，则证明故障对被测系统未产生影响或者故障被容忍了；（3）在遍历每个功能模块的测试之后，根据每个模块完成的故障注入次数和出现的功能失效次数计算出系统的功能失效率。本发明具有操作方便、简单易行、准确性高等优点。 | ||
| 申请公布号 | CN103913662A | 申请公布日期 | 2014.07.09 |
| 申请号 | CN201410147989.9 | 申请日期 | 2014.04.14 |
| 申请人 | 中国人民解放军国防科学技术大学 | 发明人 | 杨俊;王跃科;邢克飞;何伟;胡梅;杨道宁;刘思恺 |
| 分类号 | G01R31/00(2006.01)I | 主分类号 | G01R31/00(2006.01)I |
| 代理机构 | 湖南兆弘专利事务所 43008 | 代理人 | 周长清 |
| 主权项 | 一种基于故障注入的测试系统单粒子功能失效率的方法，其特征在于，步骤为：（1）将被测系统进行功能模块划分；（2）在两个同时运行的相同的被测系统中，对其中一个被测系统的一个功能模块注入单粒子故障，同时输出比较器采集两个被测系统的输出，进行比对；如果出现差异，则证明单粒子故障引起了被测系统的功能失效；如果没有出现差异，则证明故障对被测系统未产生影响或者故障被容忍了；（3）在遍历每个功能模块的测试之后，根据每个模块完成的故障注入次数和出现的功能失效次数计算出系统的功能失效率。 | ||
| 地址 | 410073 湖南省长沙市砚瓦池正街47号中国人民解放军国防科学技术大学机电工程与自动化学院 | ||