发明名称 |
电子存储器的基于分区的感测及划分 |
摘要 |
本发明提供区别一个或多个多单元存储器器件(102,202,302)的重叠之临界级之方法及系统。举例而言,系统可包含可用来量测与第一存储器单元(304)相关联的级之感测组件(104,204,310)。该系统亦可包含可用来将与该第一存储器单元(304)相关联的被量测之级和不重叠的临界级(404-436)比较之比较组件(106,206,314),其中该量测可被用来决定与第二存储器单元相关联的唯一之位级。举另外的例子,藉由将第二单元值与相对于与该第二单元(436,522,622)相关联的参考级而量测之不重叠的临界值(404-406)比较,说明了准确地量测双单元存储器器件的第一单元的位级之方法。 |
申请公布号 |
CN101681668B |
申请公布日期 |
2014.07.09 |
申请号 |
CN200880016146.8 |
申请日期 |
2008.03.14 |
申请人 |
斯班逊有限公司 |
发明人 |
M·阿赫特 |
分类号 |
G11C7/06(2006.01)I;G11C16/26(2006.01)I;G11C11/56(2006.01)I;G11C16/28(2006.01)I |
主分类号 |
G11C7/06(2006.01)I |
代理机构 |
北京戈程知识产权代理有限公司 11314 |
代理人 |
程伟;王锦阳 |
主权项 |
一种决定四位双单元存储器器件(102,202,302)的位级的系统,该系统包括:多位存储器单元(304,306,308),其编程为不同的位级(404‑434,502‑516,602‑608,612‑618),其中,所述位级的位状态由参考点所指示的临界位级相区隔;感测组件(104,204,310),其测量第一存储器单元(304)的第一位级与第二存储器单元(306)的第二位级;以及比较组件(106,206,314),其使该第一存储器单元(304)的第一位级、该第二存储器单元(306)的第二位级与第一参考位级(436,522,622)有关连,分离该第二存储器单元(306)的该第二位级,决定该第一存储器单元(304)的第一位级的第一位状态或该第二存储器单元(306)的第二位级的第二位状态。 |
地址 |
美国加利福尼亚州 |