发明名称 |
CT成像系统和方法 |
摘要 |
本发明公开了一种CT成像系统和方法。对物体进行普通CT扫描得到普通CT图像,然后从该图像中确定感兴趣区域。利用光子计数探测器在多个能窗对感兴趣区域进行CT扫描。然后重建感兴趣区域的高分辨率图像。利用光子计数探测器采集多个能窗的光子计数投影数据,因此可进行多个基函数的分解,使得能谱区分度高,数值稳定性好。 |
申请公布号 |
CN103913472A |
申请公布日期 |
2014.07.09 |
申请号 |
CN201210593047.4 |
申请日期 |
2012.12.31 |
申请人 |
同方威视技术股份有限公司;清华大学 |
发明人 |
沈乐;邢宇翔;李元吉;冯初晴;张丽;陈志强 |
分类号 |
G01N23/04(2006.01)I;G01V5/00(2006.01)I;A61B6/03(2006.01)I |
主分类号 |
G01N23/04(2006.01)I |
代理机构 |
中科专利商标代理有限责任公司 11021 |
代理人 |
王波波 |
主权项 |
一种CT成像系统,包括:X射线源,第一探测和采集装置,与所述X射线源相对设置,并且被配置为对被检查物体进行第一CT扫描,得到扫描数据;重建装置,配置为基于所述扫描数据重建第一分辨率的图像;第二探测和采集装置,至少包括光子计数探测器,并且配置为对从所述第一分辨率的图像中确定的感兴趣区域进行第二CT扫描,所述第二CT扫描包括利用所述光子计数探测器在多个能窗针对该感兴趣区域进行扫描,得到截断的能谱数据;其中,所述重建装置进一步被配置为使用第一分辨率的图像作为先验图像对截断的能谱数据进行补全,并且利用补全后的能谱数据重建比第一分辨率高的第二分辨率的图像。 |
地址 |
100084 北京市海淀区双清路同方大厦A座2层 |