发明名称 |
Verfahren zur Herstellung eines GaAs-Einkristalls und GaAs-Einkristallwafer |
摘要 |
Es werden ein Verfahren zur Herstellung eines GaAs-Einkristalls mit einer hohen Trägerkonzentration und einer hohen Kristallinität sowie ein GaAs-Einkristallwafer, bei dem ein solcher GaAs-Einkristall verwendet wird, bereitgestellt. Bei dem Verfahren zur Herstellung eines GaAs-Einkristalls wird ein Vertikalschiffchenverfahren mit einem Tiegel 4 durchgeführt, in dem sich ein Keimkristall 10, ein Si-Material 12, das als Fremdatom dient, ein GaAs-Material 14, festes Siliziumdioxid 16 und ein Boroxidmaterial 18 befinden, wodurch ein GaAs-Einkristall 20 wachsen gelassen wird. |
申请公布号 |
DE112012002217(T5) |
申请公布日期 |
2014.07.03 |
申请号 |
DE20121102217T |
申请日期 |
2012.05.16 |
申请人 |
DOWA ELECTRONICS MATERIALS CO., LTD. |
发明人 |
NAKAMURA, RYOICHI;MURAKAMI, MOTOICHI;MIYAJI, TAKEHIRO |
分类号 |
C30B29/42;C30B11/00;C30B27/00 |
主分类号 |
C30B29/42 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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