发明名称 Verfahren zur Herstellung eines GaAs-Einkristalls und GaAs-Einkristallwafer
摘要 Es werden ein Verfahren zur Herstellung eines GaAs-Einkristalls mit einer hohen Trägerkonzentration und einer hohen Kristallinität sowie ein GaAs-Einkristallwafer, bei dem ein solcher GaAs-Einkristall verwendet wird, bereitgestellt. Bei dem Verfahren zur Herstellung eines GaAs-Einkristalls wird ein Vertikalschiffchenverfahren mit einem Tiegel 4 durchgeführt, in dem sich ein Keimkristall 10, ein Si-Material 12, das als Fremdatom dient, ein GaAs-Material 14, festes Siliziumdioxid 16 und ein Boroxidmaterial 18 befinden, wodurch ein GaAs-Einkristall 20 wachsen gelassen wird.
申请公布号 DE112012002217(T5) 申请公布日期 2014.07.03
申请号 DE20121102217T 申请日期 2012.05.16
申请人 DOWA ELECTRONICS MATERIALS CO., LTD. 发明人 NAKAMURA, RYOICHI;MURAKAMI, MOTOICHI;MIYAJI, TAKEHIRO
分类号 C30B29/42;C30B11/00;C30B27/00 主分类号 C30B29/42
代理机构 代理人
主权项
地址