发明名称 |
沟槽中的成膜工艺方法 |
摘要 |
本发明公开了一种沟槽中的成膜工艺方法,包括步骤:1)在沟槽表面生长隔离介质层;2)涂布含硅的光刻胶,曝光显影,去除不需要保护的区域的光刻胶,然后用强氧化剂在光刻胶表面形成氧化膜并固化;3)根据沟槽底部需要淀积的膜的宽度和光刻胶的厚度,计算出淀积角度,然后以该淀积角度,在硅片上淀积一层成膜材料;4)淀积完成后去除光刻胶。本发明通过在保护区域涂布含硅的光刻胶,并以一定的角度淀积成膜,有效地避免了成膜后,光刻胶残留沟槽底部(正胶)或因沟槽底部光强不够而无法形成有效的光刻胶保护(负胶)的问题。 |
申请公布号 |
CN103896204A |
申请公布日期 |
2014.07.02 |
申请号 |
CN201210571706.4 |
申请日期 |
2012.12.25 |
申请人 |
上海华虹宏力半导体制造有限公司 |
发明人 |
孟鸿林;郭晓波;刘尧 |
分类号 |
B81C1/00(2006.01)I |
主分类号 |
B81C1/00(2006.01)I |
代理机构 |
上海浦一知识产权代理有限公司 31211 |
代理人 |
刘昌荣 |
主权项 |
沟槽中的成膜工艺方法,其特征在于,包括以下步骤:1)在沟槽表面生长一层隔离介质层;2)涂布一层含硅的光刻胶,通过曝光显影,去除不需要保护的区域的光刻胶,然后用强氧化剂在光刻胶表面形成一层氧化膜并固化;3)根据沟槽底部需要淀积的膜的宽度和光刻胶的厚度,计算出淀积角度,然后以该淀积角度,在硅片上淀积一层成膜材料;4)淀积完成后去除光刻胶。 |
地址 |
201203 上海市浦东新区张江高科技园区祖冲之路1399号 |