发明名称 一种InP基HEMT在太赫兹频段的建模方法
摘要 本发明公开了一种InP基HEMT在太赫兹频段的建模方法,首先对加工完成的InP基HEMT器件进行直流测试,获得InP基HEMT的电流电压参数,在电路设计软件中建立低频参数包;然后结合InP基HEMT的设计版图和加工工艺,建立InP基HEMT高频仿真结构模型,在InP基HEMT栅端口和漏端口分别设置波端口激励,结合InP基HEMT的实际电路封装形式,抽取InP基HEMT寄生分量S参数包;最后在电路设计软件中建立起完整的包含寄生参量的电路模型,低频参数包和寄生分量S参数包在电路设计软件中串联,建立InP基HEMT在太赫兹频段的整体电路模型。本发明方法简单,使用方便,缩短了开发周期,降低了开发成本。
申请公布号 CN103902668A 申请公布日期 2014.07.02
申请号 CN201410094889.4 申请日期 2014.03.14
申请人 中国电子科技集团公司第十三研究所 发明人 王俊龙;邢东;张立森;梁士雄;杨大宝;赵向阳;冯志红
分类号 G06F17/30(2006.01)I 主分类号 G06F17/30(2006.01)I
代理机构 石家庄国为知识产权事务所 13120 代理人 米文智
主权项 一种InP基HEMT在太赫兹频段的建模方法,其特征在于,包括以下步骤:第一步,对加工完成的InP基HEMT器件进行直流测试,获得InP基HEMT在直流测试中的电流电压参数,在电路设计软件中建立电流电压参数构成的低频参数包;第二步,结合InP基HEMT的设计版图和加工工艺,在高频结构仿真软件中,建立InP基HEMT的高频仿真结构模型,在InP基HEMT的栅端口和漏端口分别设置波端口激励,结合InP基HEMT的实际电路封装形式,抽取InP基HEMT的寄生分量S参数包;第三步,在电路设计软件中建立起完整的包含寄生参量的电路模型,低频参数包和寄生分量S参数包在电路设计软件中串联,建立InP基HEMT在太赫兹频段的整体电路模型。
地址 050051 河北省石家庄市合作路113号