发明名称 测量SF<sub>6</sub>分解气体中H<sub>2</sub>S浓度的方法
摘要 测量SF<sub>6</sub>分解气体中H<sub>2</sub>S浓度的方法,属于光电技术检测领域。本发明是为了解决在SF<sub>6</sub>分解气体测量时,测得的SF<sub>6</sub>分解气体中H<sub>2</sub>S气体浓度的精度低的问题。本发明所述的测量SF<sub>6</sub>分解气体中H<sub>2</sub>S浓度的方法,首先获得大气的光谱和SF<sub>6</sub>分解气体的光谱,然后依据比尔定律最终获得待测H<sub>2</sub>S气体浓度,该方法简化了数据处理过程,从而使H<sub>2</sub>S气体浓度的精度提高了50%。本发明所述的测量SF<sub>6</sub>分解气体中H<sub>2</sub>S浓度的方法,适用于对SF<sub>6</sub>分解气体中的H<sub>2</sub>S气体进行浓度测量。
申请公布号 CN103900983A 申请公布日期 2014.07.02
申请号 CN201410171521.3 申请日期 2014.04.25
申请人 国家电网公司;黑龙江省电力科学研究院;中国电力科学研究院;国网安徽省电力公司电力科学研究院;国网陕西省电力公司电力科学研究院;国网重庆市电力公司电力科学研究院 发明人 鲁钢;刘洋;宋杲;颜湘莲;季严松;苏镇西;杨韧;赵也;姚强
分类号 G01N21/31(2006.01)I 主分类号 G01N21/31(2006.01)I
代理机构 哈尔滨市松花江专利商标事务所 23109 代理人 张利明
主权项 测量SF<sub>6</sub>分解气体中H<sub>2</sub>S浓度的方法,其特征在于,该方法是基于下述装置实现的,所述装置包括:氘光源(1)、第一聚光镜(2)、样品池(3)、第二聚光镜(4)和光谱仪(5);氘光源(1)发出的光经过第一聚光镜(2)透射至样品池(3)中,样品池(3)将该光透射至第二聚光镜(4)上,第二聚光镜(4)将该光透射至光谱仪(5)的入射狭缝中;所述光谱仪(5)的入射狭缝位于第二聚光镜(4)的焦点处;所述样品池(3)用于填充待检测气体;所述测量SF<sub>6</sub>分解气体中H<sub>2</sub>S浓度的方法包括以下步骤:步骤一:在样品池(3)中充入大气,打开氘光源(1),通过光谱仪(5)获得大气的光谱I<sub>0</sub>(λ);步骤二:在样品池(3)中充入待检测的SF<sub>6</sub>分解气体,通过光谱仪(5)获得SF<sub>6</sub>分解气体的光谱I(λ);步骤三:依据比尔定律,利用步骤一获得的大气的光谱I<sub>0</sub>(λ)和步骤二获得的SF<sub>6</sub>分解气体的光谱I(λ),获得充入样品池(3)中的待测H<sub>2</sub>S气体的浓度N。
地址 100031 北京市西城区西长安街86号
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