发明名称 |
测量SF<sub>6</sub>分解气体中H<sub>2</sub>S浓度的方法 |
摘要 |
测量SF<sub>6</sub>分解气体中H<sub>2</sub>S浓度的方法,属于光电技术检测领域。本发明是为了解决在SF<sub>6</sub>分解气体测量时,测得的SF<sub>6</sub>分解气体中H<sub>2</sub>S气体浓度的精度低的问题。本发明所述的测量SF<sub>6</sub>分解气体中H<sub>2</sub>S浓度的方法,首先获得大气的光谱和SF<sub>6</sub>分解气体的光谱,然后依据比尔定律最终获得待测H<sub>2</sub>S气体浓度,该方法简化了数据处理过程,从而使H<sub>2</sub>S气体浓度的精度提高了50%。本发明所述的测量SF<sub>6</sub>分解气体中H<sub>2</sub>S浓度的方法,适用于对SF<sub>6</sub>分解气体中的H<sub>2</sub>S气体进行浓度测量。 |
申请公布号 |
CN103900983A |
申请公布日期 |
2014.07.02 |
申请号 |
CN201410171521.3 |
申请日期 |
2014.04.25 |
申请人 |
国家电网公司;黑龙江省电力科学研究院;中国电力科学研究院;国网安徽省电力公司电力科学研究院;国网陕西省电力公司电力科学研究院;国网重庆市电力公司电力科学研究院 |
发明人 |
鲁钢;刘洋;宋杲;颜湘莲;季严松;苏镇西;杨韧;赵也;姚强 |
分类号 |
G01N21/31(2006.01)I |
主分类号 |
G01N21/31(2006.01)I |
代理机构 |
哈尔滨市松花江专利商标事务所 23109 |
代理人 |
张利明 |
主权项 |
测量SF<sub>6</sub>分解气体中H<sub>2</sub>S浓度的方法,其特征在于,该方法是基于下述装置实现的,所述装置包括:氘光源(1)、第一聚光镜(2)、样品池(3)、第二聚光镜(4)和光谱仪(5);氘光源(1)发出的光经过第一聚光镜(2)透射至样品池(3)中,样品池(3)将该光透射至第二聚光镜(4)上,第二聚光镜(4)将该光透射至光谱仪(5)的入射狭缝中;所述光谱仪(5)的入射狭缝位于第二聚光镜(4)的焦点处;所述样品池(3)用于填充待检测气体;所述测量SF<sub>6</sub>分解气体中H<sub>2</sub>S浓度的方法包括以下步骤:步骤一:在样品池(3)中充入大气,打开氘光源(1),通过光谱仪(5)获得大气的光谱I<sub>0</sub>(λ);步骤二:在样品池(3)中充入待检测的SF<sub>6</sub>分解气体,通过光谱仪(5)获得SF<sub>6</sub>分解气体的光谱I(λ);步骤三:依据比尔定律,利用步骤一获得的大气的光谱I<sub>0</sub>(λ)和步骤二获得的SF<sub>6</sub>分解气体的光谱I(λ),获得充入样品池(3)中的待测H<sub>2</sub>S气体的浓度N。 |
地址 |
100031 北京市西城区西长安街86号 |