发明名称 一种获取温度响应曲线的方法、装置及控制系统
摘要 本发明公开了一种获取温度响应曲线的方法、装置及控制系统,属于计算机领域。所述控制系统括:控制模块、加热模块和测量模块,所述控制模块与所述加热模块相连,所述加热模块传递热量给待测量的热敏感元器件,所述测量模块与所述待测量的热敏感元器件相连;所述控制模块,用于根据待测量的热源的工作描述信息,控制所述加热模块模拟所述待测量的热源在预设时间内的工作过程,以使所述加热模块产生热量并传递给所述待测量的热敏感元器件;所述测量模块,用于测量所述待测量的热敏感元器件的温度指标,根据所述温度指标获取所述待测量的热敏感元器件受所述待测量的热源影响的温度响应曲线。本发明提高获取温度响应曲线的精度。
申请公布号 CN103900735A 申请公布日期 2014.07.02
申请号 CN201210568030.3 申请日期 2012.12.24
申请人 联想(北京)有限公司 发明人 林金强;郑煊;常程
分类号 G01K15/00(2006.01)I;G01N25/00(2006.01)I 主分类号 G01K15/00(2006.01)I
代理机构 北京三高永信知识产权代理有限责任公司 11138 代理人 张耀光
主权项 一种控制系统,其特征在于,所述控制系统包括:控制模块、加热模块和测量模块,所述控制模块与所述加热模块相连,所述加热模块传递热量给待测量的热敏感元器件,所述测量模块与所述待测量的热敏感元器件相连;所述控制模块,用于根据待测量的热源的工作描述信息,控制所述加热模块模拟所述待测量的热源在预设时间内的工作过程,以使所述加热模块产生热量并传递给所述待测量的热敏感元器件,所述待测量的热源包括处于工作状态并产生热量的元器件;所述测量模块,用于测量所述待测量的热敏感元器件的温度指标,根据所述温度指标获取所述待测量的热敏感元器件受所述待测量的热源影响的温度响应曲线。
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