发明名称 |
基于迈克尔逊干涉仪的全光纤折射率计、制作方法及系统 |
摘要 |
本发明适用于传感器技术领域,提供了一种基于迈克尔逊干涉仪的全光纤折射率计,包括依次顺序熔接的第一根单模光纤、细芯光纤和第二根单模光纤;所述细芯光纤的长度和所述第二根单模光纤的长度的比值符合一定数值范围。所述的基于迈克尔逊干涉仪的全光纤折射率计只需控制细芯光纤和第二根单模光纤的长度比值即可获得较好的干涉对比度,实现折射率的测量。该全光纤折射率计具有体积小、结构简单、成本低、灵敏度高、抗电磁干扰、耐腐蚀和可用于恶劣环境等优点。 |
申请公布号 |
CN103900994A |
申请公布日期 |
2014.07.02 |
申请号 |
CN201410156179.X |
申请日期 |
2014.04.18 |
申请人 |
深圳大学 |
发明人 |
王义平;李正勇;廖常锐 |
分类号 |
G01N21/45(2006.01)I |
主分类号 |
G01N21/45(2006.01)I |
代理机构 |
深圳市恒申知识产权事务所(普通合伙) 44312 |
代理人 |
陈健 |
主权项 |
基于迈克尔逊干涉仪的全光纤折射率计,其特征在于,包括依次顺序熔接的第一根单模光纤、细芯光纤和第二根单模光纤;所述细芯光纤的长度和所述第二根单模光纤的长度的比值符合一定数值范围。 |
地址 |
518060 广东省深圳市南山区南海大道3688号 |