发明名称 位置检测器
摘要 本发明公开了一种位置检测器,其包括设置在第一磁通传输部件(20)的第一端(22)和第二磁通传输部件(30)的第一端(32)之间的磁体(45)以及设置在第一磁通传输部件和第二磁通传输部件的第二端(23、33)之间的磁体(50)。位置检测器还包括位于间隙(101)内并相对于旋转体(12)旋转的霍尔IC(60)。霍尔IC检测来自第一磁通传输部件和第二磁通传输部件的磁通的密度,并根据穿过其的磁通的密度输出信号,从而对检测对象的位置进行检测。间隙内的最小磁通密度位置可变换到具有最高检测准确性的位置,从而提高检测对象的位置检测准确性。
申请公布号 CN103900453A 申请公布日期 2014.07.02
申请号 CN201310739362.8 申请日期 2013.12.26
申请人 株式会社电装 发明人 河野尚明;山中哲尔
分类号 G01B7/00(2006.01)I 主分类号 G01B7/00(2006.01)I
代理机构 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人 王永建
主权项 一种检测相对于参照部件(6、9)运动的检测对象(12、110)的位置的位置检测器(10),所述位置检测器(10)包括:第一磁通传输部件(20、24),设置在检测对象或参照部件中的一个上,第一磁通传输部件具有第一端(22、26)和第二端(23、27);第二磁通传输部件(30、34),设置成在第一磁通传输部件和第二磁通传输部件之间限定间隙(101、102),第二磁通传输部件具有第一端(32、36)和第二端(33、37);第一磁通产生器(40、45),位于第一磁通传输部件的第一端和第二磁通传输部件的第一端之间;第二磁通产生器(50),位于第一磁通传输部件的第二端和第二磁通传输部件的第二端之间;和磁通密度检测器(60),(i)设置在检测对象或参照部件中的另一个上以在间隙内相对于检测对象或参照部件中的所述一个可运动,(ii)根据穿过磁通密度检测器的磁通的密度输出信号,其中磁通密度检测器在间隙内的最小磁通密度位置被设定为从间隙的中心朝向第一磁通产生器或第二磁通产生器中的一个偏离预定距离的位置,在所述最小磁通密度位置处穿过磁通密度检测器的磁通的密度的绝对值降低至最小。
地址 日本爱知县