发明名称 |
一种降低GaAs薄膜杂质含量的制备方法 |
摘要 |
本发明公开了一种降低GaAs薄膜杂质含量的制备方法,该方法包括母液提纯和外延生长二个步聚,依次是:将原料Ga和GaAs放入石墨舟,抽真空、通氢气,调控上段炉与下段炉形成稳定的温差,开始提纯母液;提纯后,打开阀门,使得石墨舟左侧室上部的母液流入右侧室,调控炉与上段炉温度相同,待母液匀化后,移开档板,插入衬底控制杆至衬底浸入母液,以恒速降温,开始外延生长,结束后拉动控制杆至衬底离开液面,转动控制杆,甩掉残留母液,冷却至室温。本发明的优点是:提纯步骤降低了薄膜的杂质含量,扩大了应用范围,并且工艺简单,可大规模量产。 |
申请公布号 |
CN103898600A |
申请公布日期 |
2014.07.02 |
申请号 |
CN201410121076.X |
申请日期 |
2014.03.28 |
申请人 |
中国科学院上海技术物理研究所 |
发明人 |
邓惠勇;郭建华;刘雨从;胡古今;戴宁 |
分类号 |
C30B19/00(2006.01)I;C30B19/06(2006.01)I;C30B29/42(2006.01)I |
主分类号 |
C30B19/00(2006.01)I |
代理机构 |
上海新天专利代理有限公司 31213 |
代理人 |
郭英 |
主权项 |
一种降低GaAs薄膜杂质含量的制备方法,其特征在于包括以下步骤:①以高纯Ga和GaAs为原料,采用通用的方法清洗高纯GaAs表面,用氮气吹干后将GaAs和Ga放入特制的石墨舟(2)的左侧室(21)内;②抽真空至系统的压强<10<sup>‑4</sup>Pa后通入高纯氢气,接着调节三段式垂直炉(1)的温度,使得上段炉(11)与下段炉(13)形成稳定的温差,上段炉(11)的温度是700~850℃,比下段炉(13)的温度高50~150℃,开始提纯母液(6);③保温5~10小时,待母液提纯之后,打开石墨舟(2)中间的阀门(23),使得石墨舟左侧室(21)上部分提纯后的GaAs饱和母液流入石墨舟右侧室(22);④调节中间炉(12)与下段炉(13)的温度,使得它们和上段炉(11)的温度保持一致,接着保温2~4小时,待母液重新匀化后,移开衬底档板(4),缓缓插入衬底控制杆(3),使得衬底(5)刚好浸入石墨舟右侧室(22)的GaAs饱和母液,然后垂直炉(1)以2~10℃/h的恒定速率降温,开始外延生长GaAs薄膜;⑤外延结束后向上拉动衬底控制杆(3),使得衬底(5)刚好离开GaAs饱和母液的液面后,以350~850rpm的转速转动衬底控制杆(3),甩掉衬底(5)表面的残留母液;⑥冷却至室温,结束生长。 |
地址 |
200083 上海市虹口区玉田路500号 |