发明名称 | 一种微纳米颗粒分散分布的分析评估方法 | ||
摘要 | 本发明提供的一种微纳米颗粒分散分布的分析评估方法,包括以下步骤:采集微纳米颗粒显微图像,并进行灰度化处理;采用OTSU大津法进行二值化处理,去除图像中的杂质点和无效连通域;利用形态学运算,分离相连的连通域,并填补连通域中的孔洞;添加虚拟颗粒,采用分水岭算法进行图像分割,获得分割后的特征连通域;计算特征连通域的相关数据;对微纳米颗粒分散分布进行评估。本发明提供的分析评估方法,能够获得更加精确的结果;可批量快速处理大量的微纳米颗粒分布显微图像;能够从均匀度、密度和团聚程度三个方面,全面地对微纳米颗粒分布的情况进行分析和评估。 | ||
申请公布号 | CN103903266A | 申请公布日期 | 2014.07.02 |
申请号 | CN201410138109.1 | 申请日期 | 2014.04.08 |
申请人 | 上海交通大学 | 发明人 | 熊振华;袁鑫;盛鑫军;朱向阳 |
分类号 | G06T7/00(2006.01)I | 主分类号 | G06T7/00(2006.01)I |
代理机构 | 上海旭诚知识产权代理有限公司 31220 | 代理人 | 郑立 |
主权项 | 一种微纳米颗粒分散分布的分析评估方法,其特征在于,包括以下步骤:(1)采集微纳米颗粒显微图像,并进行灰度化处理,得到灰度图像;(2)采用OTSU大津法对所述灰度图像进行处理,得到二值化图像,去除所述二值化图像中的杂质点和无效连通域;(3)利用形态学运算处理所述二值化图像,分离相连的连通域,并填补连通域中的孔洞;(4)添加虚拟颗粒,对添加虚拟颗粒后的图像采用分水岭算法进行图像分割,获得分割后的特征连通域;(5)计算所述特征连通域的相关数据;(6)对所述微纳米颗粒分散分布进行评估。 | ||
地址 | 200240 上海市闵行区东川路800号 |