发明名称 | 通过使用有槽的衬底的低翘曲晶片结合 | ||
摘要 | 在晶片结合工艺中,两个晶片衬底其中之一或二者在结合之前被刻划。通过在衬底中形成槽,在结合期间晶片的特性类似于较薄晶片的特性,由此减小由于与每个晶片关联的CTE特性的差异引起的可能翘曲。优选地,形成与切割/划片图案一致的多个槽,使得所述多个槽将不存在于经切割的封装中,由此保留完整厚度衬底的结构特性。 | ||
申请公布号 | CN103907175A | 申请公布日期 | 2014.07.02 |
申请号 | CN201280051691.7 | 申请日期 | 2012.10.05 |
申请人 | 皇家飞利浦有限公司 | 发明人 | M.A.德萨伯;E.C.E.范格伦斯文;R.A.B.恩格伦 |
分类号 | H01L21/20(2006.01)I | 主分类号 | H01L21/20(2006.01)I |
代理机构 | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人 | 李亚非;汪扬 |
主权项 | 一种结构,包括:第一半导体晶片,以及第二晶片,所述第二晶片结合到所述第一晶片,其中所述第一晶片和第二晶片至少其一被刻划形成有多个槽,所述槽布置成减小所结合的结构的翘曲。 | ||
地址 | 荷兰艾恩德霍芬 |