发明名称 通过使用有槽的衬底的低翘曲晶片结合
摘要 在晶片结合工艺中,两个晶片衬底其中之一或二者在结合之前被刻划。通过在衬底中形成槽,在结合期间晶片的特性类似于较薄晶片的特性,由此减小由于与每个晶片关联的CTE特性的差异引起的可能翘曲。优选地,形成与切割/划片图案一致的多个槽,使得所述多个槽将不存在于经切割的封装中,由此保留完整厚度衬底的结构特性。
申请公布号 CN103907175A 申请公布日期 2014.07.02
申请号 CN201280051691.7 申请日期 2012.10.05
申请人 皇家飞利浦有限公司 发明人 M.A.德萨伯;E.C.E.范格伦斯文;R.A.B.恩格伦
分类号 H01L21/20(2006.01)I 主分类号 H01L21/20(2006.01)I
代理机构 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人 李亚非;汪扬
主权项 一种结构,包括:第一半导体晶片,以及第二晶片,所述第二晶片结合到所述第一晶片,其中所述第一晶片和第二晶片至少其一被刻划形成有多个槽,所述槽布置成减小所结合的结构的翘曲。
地址 荷兰艾恩德霍芬