发明名称 |
半导体制造设备批次控制的背景条件偏差估计方法和系统 |
摘要 |
描述了半导体制造设备批次控制的背景条件偏差估计方法和系统。在一个实施例中,识别与过程相关的背景条件。过程具有一个或多个线程,每个线程包括一个或多个背景条件。定义输入输出方程组。每个输入输出方程对应于一线程并且包括线程偏差,所述线程偏差表示为单独背景条件偏差的总和。使用输入输出方程组来建立状态-空间模型,所述状态空间模型描述过程的发展。状态空间模型可以估计单独背景条件偏差。 |
申请公布号 |
CN102301448B |
申请公布日期 |
2014.07.02 |
申请号 |
CN201080006153.7 |
申请日期 |
2010.01.28 |
申请人 |
应用材料公司 |
发明人 |
邹建平 |
分类号 |
G05B19/418(2006.01)I |
主分类号 |
G05B19/418(2006.01)I |
代理机构 |
北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 |
代理人 |
徐金国 |
主权项 |
一种计算机实施的、用于批次控制的方法,所述方法包括如下步骤:识别与过程相关的背景条件,所述过程具有一个或多个线程,每个线程包括一个或多个背景条件;定义输入输出方程组,所述输入输出方程组描述所述过程,其中,每个输入输出方程对应于一线程并包括线程偏差,所述线程偏差由单独背景条件偏差的总和来表示;以及使用所述输入输出方程组来建立状态‑空间模型,所述状态‑空间模型描述所述过程的发展,所述状态‑空间模型使得能够估计单独背景条件偏差;其中,只要所述线程对应于所述背景条件的组合,则所述线程偏差就是无偏的。 |
地址 |
美国加利福尼亚州 |