一种裸板测试治具

摘要

本实用新型涉及一种半导体器件的电性能测试设备，具体涉及一种裸板测试治具。所述治具包括底座、贴合在底座上的弹簧管护板、贴合在弹簧管护板的首层针板、与PCB板贴合的末层针板、设置在首层针板和末层针板之间的多个中间针板、支柱、垫圈和探针，所述支柱依次穿过首层针板、多个中间针板和末层针板，所述垫圈设置在相邻的首层针板、多个中间针板和末层针板之间，探针依次穿过弹簧管护板、首层针板、多个中间针板和末层针板上的相应针孔，接触到PCB板，所述首层针板和末层针板结构相同，分别包括外围的紧固区和中心的减薄区，所述探针的针孔设置在减薄区内。本实用新型提供的技术方案使探针下插更通顺，减少探针弯折的同时提升工作效率。

主权项

一种裸板测试治具，包括底座、贴合在底座上的弹簧管护板、贴合在弹簧管护板的首层针板、与PCB板贴合的末层针板、设置在首层针板和末层针板之间的多个中间针板、支柱、垫圈和探针，所述支柱依次穿过首层针板、多个中间针板和末层针板，所述垫圈设置在相邻的首层针板、多个中间针板和末层针板之间，探针依次穿过弹簧管护板、首层针板、多个中间针板和末层针板上的相应针孔，接触到PCB板，其特征在于，所述首层针板和末层针板结构相同，分别包括外围的紧固区和中心的减薄区，所述探针的针孔设置在减薄区内。