发明名称 |
一种纹理/深度联合上采样方法 |
摘要 |
本发明公开一种纹理/深度联合上采样方法,其能够很好地保护边界,提高编码效率,改善虚拟视图的合成质量。该方法包括步骤:(a)在解码端识别出低分辨率深度图和高分辨率纹理图的边界,并将整个低分辨率深度图分成三个部分:水平边界,垂直边界和非边界区域;(b)利用了低分辨率深度图和高分辨率深度图的结构相似性以及深度图和相应纹理图之间的边界相似性,并且根据沿着边界方向的深度值是局部均匀的而跨越边界方向的深度值会发生剧烈的突变,来重建高分辨率深度图。 |
申请公布号 |
CN103905812A |
申请公布日期 |
2014.07.02 |
申请号 |
CN201410119095.9 |
申请日期 |
2014.03.27 |
申请人 |
北京工业大学 |
发明人 |
尹宝才;左宇鹏;丁文鹏;施云惠 |
分类号 |
H04N13/00(2006.01)I;G06T7/60(2006.01)I |
主分类号 |
H04N13/00(2006.01)I |
代理机构 |
北京中北知识产权代理有限公司 11253 |
代理人 |
冯梦洪 |
主权项 |
一种纹理/深度联合上采样方法,其特征在于:包括以下步骤:(a)在解码端识别出低分辨率深度图和高分辨率纹理图的边界,并将整个低分辨率深度图分成三个部分:水平边界,垂直边界和非边界区域;(b)利用了低分辨率深度图和高分辨率深度图的结构相似性以及深度图和相应纹理图之间的边界相似性,并且根据沿着边界方向的深度值是局部均匀的而跨越边界方向的深度值会发生剧烈的突变,来重建高分辨率深度图。 |
地址 |
100124 北京市朝阳区平乐园100号 |