发明名称 |
半导体晶粒封装与封装上封装装置;SEMICONDUCTOR DIE PACKAGE AND PACKAGE ON PACKAGE DEVICE |
摘要 |
在多种实施例中,TPV的形成机制包含多层导电层及/或凹陷形成于晶粒封装与封装上封装(PoP)装置中,其采用TPV形成接合结构。多层导电层中的一者可作为TPV之主导电层的保护层。保护层较不易氧化,且与焊料接触时较慢形成金属间化合物(IMC)。TPV中的凹陷可填有另一晶粒封装的焊料,使IMC层低于TPV的表面,进而强化接合结构。 |
申请公布号 |
TW201426965 |
申请公布日期 |
2014.07.01 |
申请号 |
TW102145797 |
申请日期 |
2013.12.12 |
申请人 |
台湾积体电路制造股份有限公司 |
发明人 |
林俊成;洪瑞斌;蔡柏豪 |
分类号 |
H01L25/04(2006.01);H01L23/52(2006.01) |
主分类号 |
H01L25/04(2006.01) |
代理机构 |
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代理人 |
洪澄文;颜锦顺 |
主权项 |
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地址 |
TAIWAN SEMICONDUCTOR MANUFACTURING CO., LTD. 新竹市新竹科学工业园区力行六路8号 |