发明名称 半导体晶粒封装与封装上封装装置;SEMICONDUCTOR DIE PACKAGE AND PACKAGE ON PACKAGE DEVICE
摘要 在多种实施例中,TPV的形成机制包含多层导电层及/或凹陷形成于晶粒封装与封装上封装(PoP)装置中,其采用TPV形成接合结构。多层导电层中的一者可作为TPV之主导电层的保护层。保护层较不易氧化,且与焊料接触时较慢形成金属间化合物(IMC)。TPV中的凹陷可填有另一晶粒封装的焊料,使IMC层低于TPV的表面,进而强化接合结构。
申请公布号 TW201426965 申请公布日期 2014.07.01
申请号 TW102145797 申请日期 2013.12.12
申请人 台湾积体电路制造股份有限公司 发明人 林俊成;洪瑞斌;蔡柏豪
分类号 H01L25/04(2006.01);H01L23/52(2006.01) 主分类号 H01L25/04(2006.01)
代理机构 代理人 洪澄文;颜锦顺
主权项
地址 TAIWAN SEMICONDUCTOR MANUFACTURING CO., LTD. 新竹市新竹科学工业园区力行六路8号