发明名称 |
振幅解调及偏振态无关之干涉式椭圆仪;HETERODYNE INTERFEROMETER BASED ON THE SUBTRACTION BETWEEN OPTICAL INTERFERENCE SIGNALS DESIGNED FOR MEASURING THE ELLIPSOMETRIC PARAMETERS OF THIN FILMS |
摘要 |
一种振幅解调及偏振态无关之干涉式椭圆仪,其二次分光与二个偏振分光装置,藉由干涉光波讯号的相减,再将相减后的光讯号藉由四组光电感测装置转换为电子讯号,而差分相位即转换为干涉讯号振幅,因此只藉由侦测干涉讯号振幅的变化,就可以提供即时椭圆参数(Ψ,Δ)的变化。 |
申请公布号 |
TW201425908 |
申请公布日期 |
2014.07.01 |
申请号 |
TW101149127 |
申请日期 |
2012.12.21 |
申请人 |
南开科技大学 |
发明人 |
邓恢纲;郎果珍 |
分类号 |
G01N21/45(2006.01);G01N21/21(2006.01) |
主分类号 |
G01N21/45(2006.01) |
代理机构 |
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代理人 |
陈瑞田 |
主权项 |
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地址 |
NAN KAI UNIVERSITY OF TECHNOLOGY 南投县草屯镇中正路568号 |