发明名称 | 深矽蚀刻方法 | ||
摘要 | 本发明公开一种深矽蚀刻方法,该方法包括:沉积步骤,生成保护层以对蚀刻侧壁进行保护;蚀刻步骤,对蚀刻底部和蚀刻侧壁进行蚀刻;重复该沉积步骤和蚀刻步骤至整个深矽蚀刻过程结束;其中,还包括底部平滑步骤,该底部平滑步骤为:利用含氟气体执行电浆处理,以去除蚀刻底部由于沉积产生的聚合物;并且,该底部平滑步骤采用的制程压力小于该蚀刻步骤采用的制程压力,在整个深矽蚀刻过程中执行该底部平滑步骤至少一次。通过上述深矽蚀刻方法,在深矽蚀刻过程中抑制了蚀刻底部聚合物的逐渐增加,抑制微遮罩或者矽草的产生,从而提高深矽蚀刻的蚀刻速率以及选择比,并改善蚀刻底部的粗糙度。 | ||
申请公布号 | TW201426866 | 申请公布日期 | 2014.07.01 |
申请号 | TW102143143 | 申请日期 | 2013.11.27 |
申请人 | 北京北方微电子基地设备工艺研究中心有限责任公司 | 发明人 | 蒋中伟 |
分类号 | H01L21/3065(2006.01) | 主分类号 | H01L21/3065(2006.01) |
代理机构 | 代理人 | 蔡清福;蔡驭理 | |
主权项 | |||
地址 | BEIJING NMC CO., LTD 中国 |