发明名称 半导体结构的刻蚀方法
摘要 一种半导体结构的刻蚀方法,包括:提供半导体衬底,所述半导体衬底表面具有待刻蚀材料层;在所述待刻蚀材料层表面形成掩膜层;以所述掩膜层为掩膜,对所述待刻蚀材料层进行刻蚀工艺,通入反应气体后,射频功率源以第一脉冲的方式输出射频功率,偏置功率源以第二脉冲的方式输出偏置功率,且所述第一脉冲和第二脉冲的脉冲频率不同。不仅刻蚀速率较快,且通过调控所述射频功率源和偏置功率源之间的脉冲频率比例,可以调整刻蚀的工艺视窗大小和刻蚀速率随时间的分布。
申请公布号 TW201426861 申请公布日期 2014.07.01
申请号 TW102140586 申请日期 2013.11.07
申请人 中微半导体设备(上海)有限公司 发明人 王兆祥;梁洁;倪图强
分类号 H01L21/3065(2006.01) 主分类号 H01L21/3065(2006.01)
代理机构 代理人 林志青
主权项
地址 中国