发明名称 |
半导体装置及其形成方法;SEMICONDUCTOR DEVICE AND FABRICATIONS THEREOF |
摘要 |
本发明揭示一种包括一或多个刻面之半导体装置及其制作方法。一例如鳍式场效电晶体之半导体装置包括一鳍,形成于一半导体基底上。鳍包括一源极区、一通道和一汲极区。一闸极围绕上述通道。以例如氢退火制程对鳍之顶鳍部份进行退火,以制作出一或多个刻面。例如,顶鳍部份包括一第一刻面邻接一第二刻面,且第一刻面与第二刻面间夹角大于90℃,使得第一刻面和第二刻面间之边角尖锐度降低。根据上述,邻近边角之电场相对于鳍中其他处之感应电场大体上系均匀的。 |
申请公布号 |
TW201427023 |
申请公布日期 |
2014.07.01 |
申请号 |
TW102146029 |
申请日期 |
2013.12.13 |
申请人 |
台湾积体电路制造股份有限公司 |
发明人 |
凡 戴尔 马克;凡里恩提斯 乔滋尔斯 |
分类号 |
H01L29/78(2006.01);H01L29/40(2006.01) |
主分类号 |
H01L29/78(2006.01) |
代理机构 |
|
代理人 |
<name>洪澄文</name><name>颜锦顺</name> |
主权项 |
|
地址 |
TAIWAN SEMICONDUCTOR MANUFACTURING CO., LTD. 新竹市新竹科学工业园区力行六路8号 |