发明名称 半导体装置
摘要 本发明提供一种半导体装置,是由使用以pMOS的闸极宽为nMOS的闸极宽的两倍之SGT的高积集、高速的至少两段以上的CMOS反相器结合电路构成。;与本发明有关的半导体装置是由结合两段以上的CMOS反相器之CMOS反相器结合电路构成,第一CMOS反相器是由第一列第一行与第二列第一行的pMOS SGT与第一列第二行的nMOS SGT构成,第二CMOS反相器是由第一列第三行与第二列第三行的pMOS SGT与第二列第二行的nMOS SGT构成,连接如下的构件:藉由岛状半导体下部层连接第一列第一行与第二列第一行的SGT的汲极扩散层与第一列第二行的SGT的汲极扩散层而配线之输出端子;以及连接第一列第三行与第二列第三行的SGT的闸极与第二列第二行的SGT的闸极而配线之输入端子。
申请公布号 TWI443806 申请公布日期 2014.07.01
申请号 TW097120153 申请日期 2008.05.30
申请人 新加坡优尼山帝斯电子私人有限公司 新加坡 发明人 舛冈富士雄;中村广记
分类号 H01L27/092;H03K19/0948 主分类号 H01L27/092
代理机构 代理人 洪武雄 台北市中正区杭州南路1段15之1号9楼;陈昭诚 台北市中正区杭州南路1段15之1号9楼
主权项 一种半导体装置,具备结合至少两段以上的CMOS反相器之CMOS反相器结合电路,该CMOS反相器结合电路包含第一CMOS反相器与第二CMOS反相器,系由在基板上排列成两列三行的MOS电晶体构成之两段CMOS反相器,第一行及第三行的MOS电晶体之每一个为p通道MOS电晶体,第二行的MOS电晶体之每一个为n通道MOS电晶体,该p通道MOS电晶体及n通道MOS电晶体的每一个为具有对基板,将汲极、闸极、源极配置于垂直方向,闸极包围岛状半导体层之构造,该第一CMOS反相器包含:第一行的两个p通道MOS电晶体;第二行的一方的n通道MOS电晶体;相互连接第二行的该一方的n通道MOS电晶体的闸极与第一行的两个p通道MOS电晶体的闸极而配线之第一CMOS反相器的输入端子;藉由岛状半导体下部层相互连接第二行的该一方的n通道MOS电晶体的汲极扩散层与第一行的两个p通道MOS电晶体的汲极扩散层而配线之第一CMOS反相器的输出端子;配线于第二行的该一方的n通道MOS电晶体的源极扩散层上的第一CMOS反相器用之第一电源供给配线;配线于第一行的两个p通道MOS电晶体的源极扩散层上的第一CMOS反相器用之第二电源供给配线;该第二CMOS反相器包含:第三行的两个p通道MOS电晶体;与第二行的该一方的n通道MOS电晶体不同之第二行的另一方的n通道MOS电晶体;相互连接第二行的该另一方的n通道MOS电晶体的闸极与第三行的两个p通道MOS电晶体的闸极而配线之第二CMOS反相器的输入端子;藉由岛状半导体下部层相互连接第二行的该另一方的n通道MOS电晶体的汲极扩散层与第三行的两个p通道MOS电晶体的汲极扩散层而配线之第二CMOS反相器的输出端子;配线于第二行的该另一方的n通道MOS电晶体的源极扩散层上的第二CMOS反相器用之第一电源供给配线;配线于第三行的两个p通道MOS电晶体的源极扩散层上之第二电源供给配线;该第一CMOS反相器用之第一电源供给配线与第二CMOS反相器用之第一电源供给配线是在第二行的n通道MOS电晶体的源极扩散层上相互连接,第一CMOS反相器的输出端子是连接于第二CMOS反相器的输入端子。
地址 新加坡