发明名称 Verfahren zur hochauflösenden 3D-Lokalisierungsmikroskopie
摘要 <p>Verfahren zur hochauflösenden 3D-Lokalisierungsmikroskopie einer Fluoreszenzemitter enthaltenden Probe (2), bei dem–die Fluoreszenzemitter in der Probe zur Abgabe von Fluoreszenzstrahlung angeregt werden und die Probe mit einer Ortsauflösung im Weitfeld (4) abgebildet wird,–die Anregung so bewirkt wird, dass bezogen auf die Ortsauflösung mindestens einige Fluoreszenzemitter isoliert sind, und–in einer Lokalisierungsanalyse (S3) eine dreidimensionale Ortsangabe, die in Tiefenrichtung der Abbildung eine z-Koordinate und orthogonal dazu eine x- und eine y-Koordinate umfasst, für jeden isolierten Fluoreszenzemitter mit einer Genauigkeit bestimmt wird, die über die Ortsauflösung hinausgeht, wobei–eine Lokalisierungsunsicherheitstabelle (15) bereitgestellt wird, die eine Unsicherheit der Ortsangabe, und zwar zumindest hinsichtlich deren z-Koordinate als Funktion der z-Koordinate und einer Anzahl von Photonen, die bei der Abbildung im Weitfeld (4) aufgesammelt wurden, angibt und–für jeden lokalisierten Fluoreszenzemitter unter Zugriff auf die Lokalisierungsunsicherheitstabelle (15) eine Ortsangabenunsicherheit für die in der Lokalisierungsanalyse bestimmte Ortsangabe ermittelt wird.</p>
申请公布号 DE102012224306(A1) 申请公布日期 2014.06.26
申请号 DE201210224306 申请日期 2012.12.21
申请人 CARL ZEISS MICROSCOPY GMBH 发明人 NOVIKAU, YAUHENI;KALKBRENNER, THOMAS
分类号 G02B21/00;G01N21/64;G02B21/24 主分类号 G02B21/00
代理机构 代理人
主权项
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