发明名称 Erhalten von Vorteilen einer Verspannung bei einem UV-Härten bei der Fertigung von Ersatz-Gate-Transistoren
摘要 Ein Verfahren zum Ausbilden einer Halbleiterstruktur beinhaltet ein Ausbilden einer verspannungsinduzierenden Schicht über einer oder mehreren teilfertigen Feldeffekttransistor(FET)-Einheiten, die über einem Substrat angeordnet sind, wobei die eine oder die mehreren teilfertigen FET-Einheiten Opfer-Dummy-Gate-Strukturen beinhalten; ein Planarisieren der verspannungsinduzierenden Schicht und Entfernen der Opfer-Dummy-Gate-Strukturen; und im Anschluss an das Planarisieren der verspannungsinduzierenden Schicht und an das Entfernen der Opfer-Dummy-Gate-Strukturen ein Durchführen einer Ultraviolett(UV)-Härtung der verspannungsinduzierenden Schicht, um einen Wert einer durch die verspannungsinduzierende Schicht auf Kanalbereiche der einen oder der mehreren teilfertigen FET-Strukturen aufgebrachten Ausgangsverspannung zu erhöhen.
申请公布号 DE112012001089(T5) 申请公布日期 2014.06.26
申请号 DE20121101089T 申请日期 2012.02.24
申请人 INTERNATIONAL BUSINESS MACHINES CORPORATION 发明人 YEH, CHUN-CHEN;GUO, DECHAO;CAI, MING;KULKARNI, PRANITA
分类号 H01L21/336;H01L21/8238;H01L29/78 主分类号 H01L21/336
代理机构 代理人
主权项
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