发明名称 |
Erhalten von Vorteilen einer Verspannung bei einem UV-Härten bei der Fertigung von Ersatz-Gate-Transistoren |
摘要 |
Ein Verfahren zum Ausbilden einer Halbleiterstruktur beinhaltet ein Ausbilden einer verspannungsinduzierenden Schicht über einer oder mehreren teilfertigen Feldeffekttransistor(FET)-Einheiten, die über einem Substrat angeordnet sind, wobei die eine oder die mehreren teilfertigen FET-Einheiten Opfer-Dummy-Gate-Strukturen beinhalten; ein Planarisieren der verspannungsinduzierenden Schicht und Entfernen der Opfer-Dummy-Gate-Strukturen; und im Anschluss an das Planarisieren der verspannungsinduzierenden Schicht und an das Entfernen der Opfer-Dummy-Gate-Strukturen ein Durchführen einer Ultraviolett(UV)-Härtung der verspannungsinduzierenden Schicht, um einen Wert einer durch die verspannungsinduzierende Schicht auf Kanalbereiche der einen oder der mehreren teilfertigen FET-Strukturen aufgebrachten Ausgangsverspannung zu erhöhen. |
申请公布号 |
DE112012001089(T5) |
申请公布日期 |
2014.06.26 |
申请号 |
DE20121101089T |
申请日期 |
2012.02.24 |
申请人 |
INTERNATIONAL BUSINESS MACHINES CORPORATION |
发明人 |
YEH, CHUN-CHEN;GUO, DECHAO;CAI, MING;KULKARNI, PRANITA |
分类号 |
H01L21/336;H01L21/8238;H01L29/78 |
主分类号 |
H01L21/336 |
代理机构 |
|
代理人 |
|
主权项 |
|
地址 |
|