| 摘要 |
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Stabilisierung der Taktfrequenz (f) eines Microcontrollers, der einem Feldgerät der Automatisierungstechnik zugeordnet ist, wobei das Feldgerät in Abhängigkeit von der Applikation unterschiedlichen Prozessbedingungen ausgesetzt ist, wobei die Taktfrequenz (f) des Microcontrollers (μC) bei zumindest zwei unterschiedlichen Temperaturwerten (T1, T2, ..) und/oder bei zumindest zwei unterschiedlichen Spannungswerten (U1, U2, ..) ermittelt wird, wobei anhand der ermittelten Werte die Abhängigkeit der Taktfrequenz (f) des Microcontrollers (μC) von der Temperatur (T) über einen vorgegebenen Temperatur- und/oder Frequenzbereich und/oder die Abhängigkeit der Taktfrequenz (f) des Microcontrollers (μC) von der Spannung (U) über einen vorgegebenen Spannungs- und/oder Frequenzbereich ermittelt wird, wobei die ermittelten Werte abgespeichert werden, und wobei der Einfluss der Temperatur (T) und/oder der Spannung (U) auf die Taktfrequenz (f) des Microcontrollers (μC) unter Berücksichtigung der ermittelten Temperaturabhängigkeit und/oder der ermittelten Spannungsabhängigkeit zumindest näherungsweise kompensiert werden/wird. |
