发明名称 |
薄片状基材的涂布层的水分量以及/或者涂布量的测定装置 |
摘要 |
本发明提供一种薄片状基材的涂布层的水分量以及/或者涂布量的测定装置。对微波空腔谐振器的振荡器侧天线的连接器部不经由线缆而直接连接配置在仅向天线方向传输信号的方向上的第1隔离器,对接收器侧的天线的连接器部不经由线缆而直接连接配置在仅向接收器方向传输信号的方向上的第2隔离器(15b)。数据处理装置包括峰值电平检测部、谐振频率检测部、以及基于这些检测部的检测值算出样本的涂布层的水分量以及涂布量的运算部。 |
申请公布号 |
CN103890569A |
申请公布日期 |
2014.06.25 |
申请号 |
CN201280050061.8 |
申请日期 |
2012.08.10 |
申请人 |
王子控股株式会社 |
发明人 |
泽本英忠;永田绅一 |
分类号 |
G01N22/04(2006.01)I;G01N22/00(2006.01)I |
主分类号 |
G01N22/04(2006.01)I |
代理机构 |
中科专利商标代理有限责任公司 11021 |
代理人 |
吴秋明 |
主权项 |
一种薄片状样本的测定装置,该测定装置具备:微波空腔谐振器,其在波导管的中途与管轴垂直地具备开孔的2个膜片板,膜片板间成为谐振器部分,膜片板的外侧的波导管部分成为分别具备天线的第1行波部分和第2行波部分,并且在所述谐振器部分设置按照横切波导管的方式来配置薄片状样本的狭缝;微波扫描振荡器,其与所述第1行波部分侧连接,并以给定的范围的频率进行振荡;微波强度接收器,其与所述第2行波部分侧连接;第1隔离器,其在所述第1行波部分与所述微波扫描振荡器之间,配置在从所述微波扫描振荡器仅向所述第1行波部分的天线方向传输信号的方向上,不经由线缆而直接与所述第1行波部分的天线的连接器部连接;第2隔离器,其在所述第2行波部分与所述微波强度接收器之间,配置在从所述第2行波部分的天线仅向所述微波强度接收器方向传输信号的方向上,不经由线缆而直接与所述第2行波部分的天线的连接器部连接;和数据处理装置,其包括接受来自所述微波强度接收器的信号来检测谐振频率下的峰值电平的峰值电平检测部、接受来自所述微波强度接收器的信号来检测谐振频率的谐振频率检测部、和基于在薄片状基材的表面设置涂布层的样本与未设置涂布层的样本之间的所述峰值电平检测部检测出的峰值电平差以及所述谐振频率检测部检测出的谐振频率差来求取涂布层的水分量以及涂布量的运算部。 |
地址 |
日本国东京都 |