发明名称 |
半导体封装结构的形成方法 |
摘要 |
一种半导体封装结构的形成方法,包括:提供半导体芯片,在芯片的焊盘上依次形成耐热金属层和金属浸润层,在金属浸润层上依次形成附着层和阻挡层,在阻挡层上形成焊料后回流,形成柱状凸点;提供引线框架,将形成有柱状凸点的芯片倒装于引线框架上,所述柱状凸点与引线框架的内引脚电连接;形成密封所述芯片、柱状凸点和引线框架,并裸露出所述外引脚的塑封层。本发明使得封装结构占据的横向的面积减小,整个封装结构的体积相应减小,提高了封装结构的集成度。 |
申请公布号 |
CN103887187A |
申请公布日期 |
2014.06.25 |
申请号 |
CN201410061904.5 |
申请日期 |
2014.02.24 |
申请人 |
南通富士通微电子股份有限公司 |
发明人 |
夏鑫;丁万春;高国华 |
分类号 |
H01L21/50(2006.01)I;H01L21/60(2006.01)I;H01L23/31(2006.01)I;H01L23/488(2006.01)I |
主分类号 |
H01L21/50(2006.01)I |
代理机构 |
北京志霖恒远知识产权代理事务所(普通合伙) 11435 |
代理人 |
孟阿妮 |
主权项 |
一种半导体封装结构的形成方法,其特征在于,包括:提供半导体芯片,所述芯片的表面设有焊盘和钝化层,所述钝化层设有裸露所述焊盘的第一开口;在芯片的焊盘和钝化层上依次形成耐热金属层和金属浸润层;在金属浸润层上形成光刻胶,所述光刻胶设有曝露出芯片焊盘上方金属浸润层的第二开口;在第二开口中的金属浸润层上依次形成附着层和阻挡层;在阻挡层上形成焊料;去除光刻胶;蚀刻钝化层上的耐热金属层和金属浸润层至钝化层裸露;回流焊料,形成柱状凸点;提供引线框架,所述引线框架设有若干分立的引脚,内引脚和外引脚设于引脚的相对两面;将形成有柱状凸点的芯片倒装于引线框架上,所述柱状凸点与所述内引脚电连接;形成密封所述芯片、柱状凸点和引线框架,并裸露出所述外引脚的塑封层。 |
地址 |
226006 江苏省南通市崇川区崇川路288号 |