辐射测量设备

摘要

发光膜通过转移法被转移到作为转移目标部件的发光板上。发光板包括用于检测β射线的第一闪烁体材料。发光膜包括保护层、防光层和发光层。发光层包括粘结性材料和添加到粘结性材料的用于检测α射线的第二闪烁体材料。发光膜可以通过转移法直接形成在透明部件的表面上、光电倍增管的光接收表面上等。防光层和发光层设置在保护层和转移目标部件之间，从而在物理上保护防光层和发光层。

主权项

一种制造辐射测量设备的方法，所述辐射测量设备包括包含用于检测β射线的闪烁体材料的后部部件、设置在所述后部部件的上侧上的发光膜、以及检测从所述发光膜的后侧发出的光的光检测单元，该方法包括将所述发光膜从包括所述发光膜的转移片转移到所述后部部件的上侧上的转移步骤，其中所述发光膜不必单独存在；其中发光膜包括：保护层，所述保护层中透射α射线和β射线；防光层，所述防光层设置在所述保护层的后侧上，透射α射线和β射线并防止光的透射；以及发光层，所述发光层设置在所述防光层的后侧上并包括当α射线进入闪烁体材料时发光的用于检测α射线的闪烁体材料，所述发光层包括透明的粘结材料，以及在所述转移步骤中，作为转移膜的所述发光膜被粘结到后部部件的上侧上，同时从转移片上分离；其中，用于检测α射线的闪烁体材料的颗粒直径为1μm或更小，发光层的厚度为2至3μm。