发明名称 一种高质量过程统计控制的Ω事件间隔控制图的制作方法
摘要 本发明一种高质量过程统计控制的Ω事件间隔控制图的制作方法,该方法假设生产过程服从正态分布且互相独立,针对高质量过程中对误报警率敏感,从降低误报警率的角度,监测Ω事件发生的时间间隔,认为如果时间间隔异常,那么过程发生了异常并且失控。该方法的具体步骤是:一.收集历史数据;二.对历史数据进行统计描述;三.设计Ω事件间隔控制图参数;四.利用Ω事件间隔控制图进行过程监控;五.判断过程是否真正失控;六.分析过程失控原因,调整修复过程,使其重新进入受控状态。本发明克服了传统控制图在高质量过程监控应用中的误报警率高等问题,且对过程报警诊断颇具参考价值,在统计过程控制技术领域里具有广阔的应用前景。
申请公布号 CN102354116B 申请公布日期 2014.06.25
申请号 CN201110223281.3 申请日期 2011.08.05
申请人 北京航空航天大学 发明人 何益海;米凯;武春晖
分类号 G05B13/04(2006.01)I 主分类号 G05B13/04(2006.01)I
代理机构 北京慧泉知识产权代理有限公司 11232 代理人 王顺荣;唐爱华
主权项 1.一种高质量过程统计控制的Ω事件间隔控制图的制作方法,Ω事件为过程每个被监测的点落到某一数值区间这一事件,如果其过程是可测量的,且其过程观测值是连续、相互独立的并服从正态分布,其特征在于:该制作方法的步骤如下:步骤1收集历史数据;步骤2对历史数据进行统计描述,计算其均值与标准差,分析过程是否受控,若过程不受控,则需要查找过程失控原因,对过程进行调整修复,重新进入步骤1;若过程受控,则进入步骤3;步骤3设计Ω事件间隔控制图参数;步骤4监测过程Ω事件的发生,记录其发生的时间点,记录连续r个Ω事件发生的时间间隔;步骤5根据控制上限UCL,控制下限LCL,连续r个Ω事件发生的时间间隔绘制时序的Ω事件间隔控制图;其中,步骤1中所述的收集历史数据,是指采集20-70组历史数据;其中,步骤2中所述的分析过程是否受控,是指子组大小为1时通常使用单值移动极差控制图即I-MR控制图,否则使用均值极差控制图即X-R控制图,来进行过程是否受控的判断;其中,步骤2中所述的计算历史数据均值计算方法,是将历史数据所有数据加和再除以数据的个数;所述的计算历史数据标准差计算方法为,假定历史数据为X<sub>1</sub>,X<sub>2</sub>,……,X<sub>n</sub>,历史数据均值为<img file="FDA0000498129820000012.GIF" wi="45" he="79" />,标准差为<img file="FDA0000498129820000011.GIF" wi="312" he="194" />其中,步骤3中所述的设计Ω事件间隔控制图参数,是指Ω事件的数值区间设定参数ζ,一个被监测时间间隔里连续发生Ω事件的数目r,控制上限UCL,控制下限LCL;其中,步骤4中所述Ω事件,参数r由步骤3确定;其中,步骤5中所述控制上限UCL,控制下限LCL由步骤3确定;其中,步骤5中所述连续r个Ω事件发生的时间间隔由步骤4监测而来。
地址 100191 北京市海淀区学院路37号
您可能感兴趣的专利