| 发明名称 | 一种基板的检测方法及检测装置 | ||
| 摘要 | 本发明公开了一种基板的检测方法及检测装置，该基板的检测方法包括：将待测基板在预定照明条件下的原始图像转换为灰度图像；根据所述灰度图像获取所述待测基板对应的识别参数检测值，所述识别参数为与灰度相关的参数；将所述识别参数检测值和多组预先设置的识别参数统计值分别进行比较，从所述多组识别参数统计值中确定与所述识别参数检测值匹配的一组识别参数统计值；每一组识别参数统计值记录了对应的工艺生产条件下生产的多个基板的识别参数检测值的统计结果；确定所述待测基板的工艺生产条件为：与所述识别参数检测值匹配的一组识别参数标准值对应的工艺生产条件。本发明提高了基板检测的准确性。 | ||
| 申请公布号 | CN103885218A | 申请公布日期 | 2014.06.25 |
| 申请号 | CN201410092883.3 | 申请日期 | 2014.03.13 |
| 申请人 | 京东方科技集团股份有限公司;北京京东方显示技术有限公司 | 发明人 | 毛继禹;张然;骆宏晨;王立夫 |
| 分类号 | G02F1/13(2006.01)I;G06T7/00(2006.01)I | 主分类号 | G02F1/13(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人 | 许静;黄灿 |
| 主权项 | 一种基板的检测方法，其特征在于，包括：将待测基板在预定照明条件下的原始图像转换为灰度图像；根据所述灰度图像获取所述待测基板对应的识别参数检测值，所述识别参数为与灰度相关的参数；将所述识别参数检测值和多组预先设置的识别参数统计值分别进行比较，从所述多组识别参数统计值中确定与所述识别参数检测值匹配的一组识别参数统计值；每一组识别参数统计值记录了对应的工艺生产条件下生产的多个基板的识别参数检测值的统计结果；确定所述待测基板的工艺生产条件为：与所述识别参数检测值匹配的一组识别参数标准值对应的工艺生产条件。 | ||
| 地址 | 100015 北京市朝阳区酒仙桥路10号 | ||