发明名称 辐射场均匀性校验定位装置
摘要 本发明公开了一种辐射场均匀性校验定位装置,其包括垂直连杆、底板、水平连杆、水平套筒;所述垂直连杆,底端固定在所述底板上;所述水平套筒,套设在所述垂直连杆外部,能沿所述垂直连杆轴向滑动;所述水平套筒和/或所述垂直连杆上设置有轴向定位机构,用于所述水平套筒在所述垂直连杆轴向上固定;所述水平连杆,一端固定在所述水平套筒上并垂直于所述垂直连杆,另一端用于固定电场探头;所述水平连杆的横截面积比所述垂直连杆的横截面积小。本发明的辐射场均匀性校验定位装置,能提高提高辐射场均匀性测试结果的准确性,并提高辐射场均匀性校验定位操作的效率、准确性。
申请公布号 CN102608558B 申请公布日期 2014.06.25
申请号 CN201210092277.2 申请日期 2012.03.31
申请人 上海市计量测试技术研究院 发明人 马欣;邹子英;陆敏;龚增;王晖;张亮;田禾箐
分类号 G01R35/00(2006.01)I 主分类号 G01R35/00(2006.01)I
代理机构 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 代理人 王江富
主权项 一种辐射场均匀性校验定位装置,其特征在于,包括垂直连杆、底板、水平连杆、水平套筒; 所述垂直连杆,底端固定在所述底板上; 所述水平套筒,套设在所述垂直连杆外部,能沿所述垂直连杆轴向滑动; 所述水平套筒和/或所述垂直连杆上设置有轴向定位机构,用于所述水平套筒在所述垂直连杆轴向上固定; 所述水平连杆,一端固定在所述水平套筒上并垂直于所述垂直连杆,另一端用于固定电场探头; 所述水平连杆的横截面积比所述垂直连杆的横截面积小; 辐射场均匀性校验定位装置,还包括多个底座套筒; 多个底座套筒呈直线固定在所述底板上,各个底座套筒的轴线垂直于所述底板,相邻两个底座套筒轴线间的距离相等; 所述垂直连杆底端可拆卸地容置固定在其中一个底座套筒内; 所述电场探头到所述垂直连杆轴线的距离等于相邻两个底座套筒轴线间的距离。 
地址 201203 上海市浦东新区张衡路1500号