| 发明名称 | 具有培养期的磁性粒子检测 | ||
| 摘要 | 本发明涉及一种用于检测样品室（112）中的磁性粒子（1）的方法和装置。在将样品引入所述样品室（112）中之后，首先通过合适的磁场（B）将磁性粒子（1）保持在样品室（112）内并且使其离开感测表面（111），以允许样品与试剂的培养。在此培养期（TI）期间可以进行参考测量，优选在培养期（TI）结束时进行。培养后，磁性粒子（1）被允许与能够进行目标测量的感测表面（111）接触。 | ||
| 申请公布号 | CN103890588A | 申请公布日期 | 2014.06.25 |
| 申请号 | CN201280051093.X | 申请日期 | 2012.10.05 |
| 申请人 | 皇家飞利浦有限公司 | 发明人 | S·福彭;B·J·M·比尔林;W·M·辉杰内恩-克乌尔;H·J·德格拉夫;D·W·M·肯珀-范德维尔;R·A·J·G·斯米茨;A·H·J·伊明克;F·K·德泰耶;W·梅尔特恩斯 |
| 分类号 | G01N35/00(2006.01)I;B01L3/00(2006.01)I | 主分类号 | G01N35/00(2006.01)I |
| 代理机构 | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人 | 李光颖;王英 |
| 主权项 | 一种包括在样品室（112）的感测表面（111）处检测磁性粒子（1）的方法，所述方法还包括：‑将样品引入所述样品室（112）中；‑在培养期（T<sub>I</sub>）内将所述样品与包括磁性粒子（1）的试剂进行培养；‑通过调制的磁场（B）在所述培养期（T<sub>I</sub>）期间将所述磁性粒子（1）保持在所述样品室（112）内，同时使它们离开所述感测表面（111）；‑在所述培养期（T<sub>I</sub>）期间约所述培养期（T<sub>I</sub>）的70%之后在所述感测表面（111）处进行参考测量。 | ||
| 地址 | 荷兰艾恩德霍芬 | ||