| 摘要 |
Kontaktieranordnung (10; 10'), insbesondere HF-Messspitze, mit einem Träger (12), an dem eine Leiterstruktur (20) angeordnet ist, wobei die Leiterstruktur (20) an einem kontaktseitigen Ende (16) mindestens ein von dem Träger vorstehendes Kontaktelement (22) zum elektrischen Kontaktieren mindestens einer Kontaktstelle eines Prüflings aufweist, und wobei die Leiterstruktur (20) zumindest einen Impedanzwandler (24) aufweist, dadurch gekennzeichnet, dass der Impedanzwandler (24) einen Leiterabschnitt (26; 26') mit sich allmählich verjüngendem oder erweiterndem Querschnitt aufweist. |
