发明名称 | 卷动式测试设备及卷动式测试柔性基板的方法 | ||
摘要 | 本发明描述了一种用以测试柔性基板上的数个电子装置的设备。此设备包括至少两个滚轴(110)、至少一探测器(122)、至少一探测支座(124)及测试装置,此至少两个滚轴用以导引柔性基板沿着传输方向进入测试区及离开测试区,此至少一探测器用以电性接触电子装置中的一或多个,于电性接触探测器时,此至少一探测支座用以支撑柔性基板的一部分,此测试装置用于电子装置中的一或多个的功能测试。 | ||
申请公布号 | CN103890828A | 申请公布日期 | 2014.06.25 |
申请号 | CN201180074336.7 | 申请日期 | 2011.10.19 |
申请人 | 应用材料公司 | 发明人 | M·布鲁纳 |
分类号 | G09G3/00(2006.01)I | 主分类号 | G09G3/00(2006.01)I |
代理机构 | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人 | 黄嵩泉 |
主权项 | 一种用以测试柔性基板上的数个电子装置的设备,包括:至少一滚轴,用以于测试区中沿着传输方向导引所述柔性基板;至少一探测器,用以电性接触所述电子装置中的一或多个;至少一探测支座,用以于电性接触所述至少一探测器时支撑所述柔性基板的一部分;测试装置,用于所述电子装置中的一或多个的功能测试。 | ||
地址 | 美国加利福尼亚州 |